Belec Compact Port移動式光譜儀是針對在工業(yè)現(xiàn)場對金屬材料進(jìn)行快速鑒定和分析而設(shè)計的。可準(zhǔn)確測定鋼鐵中的C、P、S。
Belec Compact Port便攜式直讀光譜儀是同類產(chǎn)品中體型小、重量輕、功能強(qiáng)大的光譜儀,重量只有17公斤,可配合專用的手推車,可同時放置氬氣瓶,放便移動設(shè)備及適合在現(xiàn)場工作;Belec Compact Port帶觸摸屏的計算機(jī)系統(tǒng),以TFT格式顯示數(shù)據(jù),具有的對比度和大視角平面顯示屏,使分析數(shù)據(jù)易于讀出,讓操作員在現(xiàn)場操作特別方便,通過Belec自行設(shè)計的WIN21軟件,操作簡易,對操作員本身的要求不高。為了擴(kuò)展數(shù)據(jù)輸入,可以輸入試樣的詳細(xì)說明或材料牌號,也可以使用全尺寸鍵盤或者連接鼠標(biāo)。Belec Compact Port可選擇配置兩個光譜室以至可以分析多達(dá)36種不同元素。
Belec Compact Port貝萊克光譜儀是火花發(fā)射光譜儀,快速金屬分析。固定式和移動式光譜儀分別是火花臺和火花槍,都帶有電極,火花發(fā)生器在電極與分析的樣品之間產(chǎn)生放電。在這個過程中,測試樣品的材料轉(zhuǎn)換成氣態(tài),材料元素的原子轉(zhuǎn)換成一個更高能量的狀態(tài),當(dāng)回到正常狀態(tài)時,它們發(fā)射不同元素波長的光…
光直接進(jìn)入(固定式)或者通過光纖(移動式)到達(dá)光譜室入口,在光譜室的入口,有一個很窄的狹縫,僅僅20 μm (1μm = 0,001mm),通過這個狹縫,光到達(dá)衍射光柵的表面,這個光柵是凹面鋁盤,直徑為60mm(固定式)或者30mm(移動式),每毫米3600刻線!通過大量的光柵刻線,光被衍射,分解成不同波長的光,在焦點平面產(chǎn)生譜線,即光進(jìn)入入射狹縫的圖示,這個狹縫在焦平面上顯示不同波長的光進(jìn)入入射狹縫,結(jié)果就是光譜譜線。
相關(guān)合適的譜線需要一定的測量程序及光強(qiáng)的接收,光線通過出口狹縫,然后照射在光電倍增管上,根據(jù)樣品中元素的濃度,到達(dá)光電倍增管輻射的強(qiáng)度相應(yīng)的高或低。
生產(chǎn)過程中測量已知材料化學(xué)成份并產(chǎn)生的校正曲線,存儲在計算機(jī),這些曲線對進(jìn)一步分析未知材料的化學(xué)成份提供了重要信息,數(shù)據(jù)結(jié)果以百分比或者ppm顯示在顯示器上,也可顯示相應(yīng)的化學(xué)牌號。后,客戶可以把所有的分析數(shù)據(jù)存儲在電腦中,或者打印出來
Belec Compact Port移動式光譜儀用于固體樣品元素定量分析的儀器。光學(xué)系統(tǒng)采用PMT檢測器,光譜范圍覆蓋全部典型材料。
Belec Compact Port移動式光譜儀技術(shù)參數(shù)
光學(xué)系統(tǒng):
-帕邢-龍格結(jié)構(gòu)雙光譜室,
-光柵刻線3600線/mm
-羅蘭圓300 mm
-檢測器系統(tǒng):PMT檢測器
-色散率:0,9 nm/mm(一級光譜)
-波長范圍:190-410nm/ 220 – 430 nm
-
探頭基本描述
低損耗鎢電極(氬氣火花探頭)
高效能銀電極(空氣火花探頭)
探頭鏈接系統(tǒng)
標(biāo)準(zhǔn)探頭
光源:
-火花激發(fā)源大頻率400Hz
-單極放電
-光源參數(shù),點火頻率參數(shù)計算機(jī)控制
-點火電壓:20KV
電源:
220-240V/50-60Hz;
待機(jī)功率100W;
分析功率600W;
配備大容量充電電池
計算機(jī)及讀出系統(tǒng)(integrated hardware)
-Euro-Card格式模塊計算機(jī)系統(tǒng),Windows XP操作系統(tǒng),
-RAM > 512MB, 2 ¼” Hard Disc >60 GB, CPU>1.0GHz
-電池供電實時時鐘日期功能
-配備接口,USB, PS2,串口l, VGA,局域網(wǎng),并口
顯示屏
-內(nèi)置高清晰度10.4”液晶顯示器
-堅固耐用工業(yè)觸摸屏,防水防塵開合式集成鍵盤,易于操作
-
軟件
-BELEC WIN21光譜分析軟件,多任務(wù)操作:
-原材料分選
-多種PMI測試程序
-自動根據(jù)給定偏差和激發(fā)次數(shù)進(jìn)行標(biāo)定控制
-可選激發(fā)次數(shù)進(jìn)行PMI測試
-根據(jù)設(shè)定數(shù)據(jù)進(jìn)行電極清理
-對稱及不對稱偏差
-PMI元素顯示及相應(yīng)偏差
-檢測結(jié)果存儲及打印
-可自由編輯報告
-牌號鑒別
-每套曲線存儲超過300個牌號數(shù)據(jù)
-PMI測試中顯示牌號
-分析及搜索給出鑒定牌號
-定向分析(成分近似分析)
-分析程序無限制數(shù)量
-顯示光強(qiáng)值、強(qiáng)度比、再校準(zhǔn)和校正強(qiáng)度比
-分析結(jié)果百分含量或ppm顯示
-1-2點曲線再校準(zhǔn)
-相加和相乘的干擾校正
-基體校正
-自動選擇譜線
-任意激發(fā)次數(shù)的數(shù)據(jù)計算平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差及變異系數(shù)
-結(jié)果超出曲線范圍的標(biāo)示
-樣品標(biāo)識輸入
-分析數(shù)據(jù)可傳輸至外部計算機(jī)
-連接外部打印機(jī)及顯示器
-硬盤故障自診斷
-分析數(shù)據(jù)以Excel, ASCII等標(biāo)準(zhǔn)格式存儲
-曲線數(shù)量無限制
-譜圖對比鑒別牌號
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